薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，是專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量的儀器。

薄膜的厚度是否均勻***致，是檢測薄膜各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。很顯然，倘若***批單層薄膜的厚度不均勻，不但會(huì)影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性能等指標(biāo)，更會(huì)影響薄膜的后續(xù)加工。此外，對產(chǎn)品的厚度采取合理的控制，不但能夠提高產(chǎn)品質(zhì)量，還能降低材料的消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值***致，厚度偏差是否在指定范圍之內(nèi)，這些都稱為薄膜是否能夠具有某些特性指標(biāo)的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造業(yè)的基礎(chǔ)檢測項(xiàng)目之***。

但是，市面上的薄膜測厚設(shè)備種類繁多，如何選擇合適的薄膜測厚儀呢？

薄膜測厚儀的分類，根據(jù)其測量方式的不同，可分為接觸式薄膜測厚儀和非接觸式薄膜測厚儀。接觸式薄膜測厚儀分為點(diǎn)接觸式和面接觸式，采用機(jī)械接觸式測量方式嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。非接觸式薄膜測厚儀主要功能就是信息采集處理，用無污染激光進(jìn)行不接觸試樣的測試方式，具有無損傷試樣厚度，自動(dòng)消除被檢測產(chǎn)品震動(dòng)造成的測量誤差的優(yōu)點(diǎn)。具體可分為射線，渦流，超聲波等多個(gè)類型。

（***）機(jī)械接觸式薄膜測厚儀

機(jī)械接觸式薄膜測厚方法與非接觸式薄膜測厚方法有著本質(zhì)的區(qū)別——測試時(shí)設(shè)備會(huì)給試樣測量表面施加***定的壓力（點(diǎn)接觸力或面接觸力），這樣可以避免在使用非接觸式薄膜測厚儀測量時(shí)那些具有***定壓縮性、表面高低不平的材料時(shí)可能出現(xiàn)數(shù)據(jù)波動(dòng)較大的現(xiàn)象。機(jī)械接觸式薄膜測厚儀采用的是***傳統(tǒng)、***基礎(chǔ)的測厚方法，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，對試樣沒有選擇性，具有響應(yīng)速度快，實(shí)時(shí)性能好的特點(diǎn)，而且使用方便快捷，操作簡單，支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶自由選擇。但由于這種測厚儀的測試精度主要取決于測厚傳感器的精度，所以目前市面上的機(jī)械接觸式測厚儀的測試精度參差不齊。

（二）射線式薄膜測厚儀

射線技術(shù)多用于在線測厚的設(shè)備上，對于測量物要求并不高。但是由于在線測厚儀需要安裝在薄膜生產(chǎn)線上，由于環(huán)境溫度、大氣壓變化以及生產(chǎn)線中出現(xiàn)的薄膜上下波動(dòng)等情況，對射線式薄膜測厚儀的要求非常高，所以設(shè)備的價(jià)格、后續(xù)的維護(hù)費(fèi)用會(huì)相當(dāng)大。對于企業(yè)來說，成本會(huì)很高。

（三）渦流式薄膜測厚儀

渦流式薄膜測厚儀***般都是小型便攜式設(shè)備，利用了電渦流原理。設(shè)備可用于各種特定涂層厚度的測量，但是用于測量薄膜、紙張的厚度時(shí)有出現(xiàn)誤差的可能。對于測試精度要求非常高的企業(yè)來講，選購時(shí)需要多加考慮，精度不夠高、容易出現(xiàn)誤差的現(xiàn)象，可能會(huì)給企業(yè)帶來不必要的麻煩。

（四）超聲波式薄膜測厚儀

超聲波式薄膜測厚儀也多是小型便攜式設(shè)備，它利用超聲波反射原理，可測金屬、塑料、陶瓷、玻璃以及其它任何超聲波良導(dǎo)體的厚度。可在高溫下工作，這是很多其它類型的測厚儀所不具備的，但對檢測試樣的種類具有選擇性。

當(dāng)然，不論是哪種薄膜測厚儀都有自己的優(yōu)缺點(diǎn)，需求者在選購時(shí)應(yīng)綜合評(píng)估，不能以偏概全，結(jié)合實(shí)際條件選擇適合自己產(chǎn)品的才是***重要的。